2017年6月5日，丹東百特研發(fā)中心實(shí)驗(yàn)室中，一臺(tái)造型大方厚重的納米顆粒Zeta電位分析儀樣機(jī)——BT-Zeta100有條不紊地在試驗(yàn)臺(tái)上配合著研發(fā)工程師進(jìn)行著一次次 Zeta電位測(cè)試，隨著測(cè)試的進(jìn)行，一組組Zeta電位的結(jié)果展現(xiàn)出良好的重復(fù)性和準(zhǔn)確性，標(biāo)志著這臺(tái)Zeta電位分析儀首次驚艷亮相就有不俗的表現(xiàn)，宣告了首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀研制成功。

首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀的研制成功，是丹東百特與華南師范大學(xué)合作的最新成果。早在2014年8月，丹東百特就與華南師范大學(xué)簽訂聯(lián)合研發(fā)Zeta電位分析儀的協(xié)議并成立了項(xiàng)目組。兩年來(lái)，以韓鵬教授為首的華南師范大學(xué)Zeta電位項(xiàng)目組，在測(cè)試原理、光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)分析處理等方面做了大量研究工作。以李曉光為首的百特Zeta電位項(xiàng)目組在技術(shù)路線、控制系統(tǒng)、儀器結(jié)構(gòu)、軟件設(shè)計(jì)等方面進(jìn)行了積極的探索，雙方密切聯(lián)系，定期互訪，及時(shí)將最新的研究成果融合到樣機(jī)系統(tǒng)當(dāng)中。經(jīng)過(guò)兩年多的聯(lián)合攻關(guān)，攻克了電滲影響、電場(chǎng)分布不均、實(shí)時(shí)相關(guān)信號(hào)處理、極性判斷等一系列技術(shù)難題，終于研制出了具有商業(yè)化前景的首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀。經(jīng)過(guò)與多種國(guó)外同類儀器的對(duì)比測(cè)試，樣機(jī)在重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力等主要性能指標(biāo)上達(dá)到國(guó)外同類產(chǎn)品先進(jìn)水平，項(xiàng)目取得了圓滿成功

。

BT-Zeta100型Zeta電位分析儀是基于電泳光散射（ELS）原理測(cè)量納米顆粒材料Zeta電位的，它不僅能測(cè)量納米顆粒的Zeta電位，同時(shí)具有測(cè)量納米粒度分布和分子量功能，是一個(gè)集粒度、分子量和Zeta電位于一體的高端納米顆粒分析儀器，能充分滿足納米材料主要物理性能分析，同時(shí)符合多項(xiàng)ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

BT-Zeta100采用了自主創(chuàng)新的微流控技術(shù)與自適應(yīng)光子相關(guān)技術(shù)，保證了儀器的高測(cè)量精度和寬測(cè)量范圍，并申請(qǐng)了多項(xiàng)發(fā)明專利。此外，儀器的核心技術(shù)還包括小型光源組件、具有獨(dú)特結(jié)構(gòu)的Zeta電位樣品池、高靈敏度光電探測(cè)模組、高精度溫控系統(tǒng)、光學(xué)空間調(diào)制模塊等。BT-Zeta100是具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的產(chǎn)品，它的研制成功，結(jié)束了中國(guó)納米顆粒Zeta電位分析儀器完全依靠進(jìn)口的歷史，為中國(guó)納米材料研究、生產(chǎn)與應(yīng)用提供科學(xué)準(zhǔn)確經(jīng)濟(jì)實(shí)用的測(cè)試手段，對(duì)促進(jìn)中國(guó)納米科技的發(fā)展具有重要意義。

附：Zeta電位小常識(shí)：

1、什么是Zeta電位？測(cè)試Zeta電位的意義和作用是什么？

懸浮于液體中的納米顆粒表面都存在電荷，這些電荷會(huì)影響顆粒周?chē)鷧^(qū)域的離子分布，因此每個(gè)粒子周?chē)即嬖陔p電層，分別是固定層和滑動(dòng)層，滑動(dòng)層上的電位為Zeta電位。

Zeta電位的大小反映膠體體系的穩(wěn)定性趨勢(shì)。Zeta電位的絕對(duì)值越大，懸浮液體系越穩(wěn)定，懸浮液體系穩(wěn)定與不穩(wěn)定的分界線是Zeta電位±30mv，Zeta電位大于+30mv或小于-30mv的懸浮液體系是穩(wěn)定的，Zeta電位在+30mv到-30mv是不穩(wěn)定的。

通過(guò)Zeta電位的測(cè)試，可以幫助工程師找到阻止顆粒絮凝、保持懸浮液穩(wěn)定的配方，同樣也可以幫助工程師找到促使顆粒絮凝（廢水處理），加速顆粒沉淀的方法。

2、  電泳光散射Zeta電位測(cè)試原理

電泳光散射Zeta電位測(cè)試原理是通過(guò)激光多普勒測(cè)速技術(shù)對(duì)顆粒的電泳遷移率進(jìn)行測(cè)試，然后運(yùn)用所測(cè)的電泳遷移率及Henry函數(shù)進(jìn)行計(jì)算得到Zeta電位的。當(dāng)激光光束照射在固定電場(chǎng)作用下產(chǎn)生定向運(yùn)動(dòng)的帶電粒子時(shí)，根據(jù)多普勒效應(yīng)，粒子產(chǎn)生的散射光頻率將會(huì)有微小的變化。利用光學(xué)相干技術(shù)，就能夠使散射光頻率變化轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)的波動(dòng)變化，接著由光強(qiáng)的波動(dòng)頻率得到顆粒的運(yùn)動(dòng)速度。一方面，結(jié)合固定電場(chǎng)的方向和粒子的運(yùn)動(dòng)速度大小，得到粒子的帶電極性。另一方面，結(jié)合固定電場(chǎng)的大小和粒子的運(yùn)動(dòng)速度大小算出粒子在單位電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度，即電泳遷移率，再根據(jù)Henry函數(shù)計(jì)算出Zeta電位。